月归档:2010年11月

工作笔记—主板上元器件干扰影响天线TIS性能

手里有个GSM四频加WCDMA的项目,暗室测得GSM850/900/1800的TIS分别为-98dBm,-96.5dBm,-100dBm。天线的无源数据都在30%以上,看了下耦合灵敏度也很差,判断可能是主板上存在干扰。

昨晚客户打电话说今天一起加班查找下原因,其实严格来说这种问题并不属于天线供应商要负责解决的。但是没办法,客户一时半会找不到干扰源,时间拖久的话这个项目就死掉了,项目挂了无论是对天线供应商还是终端客户以及方案商都是没有一点好处的,所以只好协助客户解决。

直板机,硬件采用高通方案,3.8寸触屏,ANDROID系统,天线在机器下方,部分净空,高度6.8mm。

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初步判断可能是LCD影响天线性能,把LCD充分接地,前端的FPC用导电布包好,测试发现900频段CH124的TIS为-96.5dBm,然后将天线下方板子背面的屏蔽罩用铜箔包起来,测试数据仍旧无太大提升。

将LCD去掉,测试900频段CH124的TIS为-99.9dBm,TIS与之前对比提升3.4dB,但是离正常的数值还有一定差距。

之前做过一个项目,触摸屏对TIS影响较大,最终客户换用其他厂家的触摸屏后问题解决。此机器触屏在天线正下方,将触屏去掉测试,CH124的TIS为-102dBm,问题解决。

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